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日本NF ZM2372高精度LCR测试仪

日本NF ZM2372高精度LCR测试仪

更新时间:2024-09-13

产品特点:
日本NF ZM2372高精度LCR测试仪1 mHz~100 kHz,高速测量快2ms,基本精度0.08%,分辨率Z高6位数。测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。如果设定为RAP,则能够进行2ms(1kHz)、10ms(120Hz)的高速测量,有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。
产品介绍
品牌其他品牌产地类别进口
类型高速LCR测量仪测量范围1 mHz~100 kHz
测量准确度0.08 %%测量频率1 mHz~100 kHzHz
测量速度2 ms电动机功率无kW
应用领域能源,电气

日本NF ZM2372高精度LCR测试仪介绍:

日本NF ZM2372高精度LCR测试仪1 mHz~100 kHz,高速测量快2ms,基本精度0.08%,分辨率Z高6位数。测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。如果设定为RAP,则能够进行2ms(1kHz)、10ms(120Hz)的高速测量,有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。

ZM2372高精度LCR测试仪特点:
高速测量快2ms
测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。
如果设定为RAP,则能够进行2ms(1kHz)、10ms(120Hz)的高速测量,有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。
高精度 基本精度0.08%,分辨率zui高6位数
测量的基本精度为0.08%的高精度,显示分辨率6位数,在主要测量范围内实现5位数高分辨率。能够满足生产线、检查线以及研究开发现场的精度要求。
高分辨率 测量频率 1mHz~100kHz、分辨率5位数
能够在1mHz~100kHz的宽范围内,用5位数的分辨率设定频率。能够测量和评价被测样品详细的频率特性。
宽广的测量信号电平 5Vrms
能够在10mVrms~5Vrms的宽范围内,用3位数的分辨率设定信号电平,便于测量信号电平依存度较强的零部件。
内置DC偏置用电源 2.5V
内置0~+2.5V(分辨率0.01V)DC偏置用电源。能够测量电解电容器之类极性零部件和半导体的接合容量。
丰富多彩的功能 配备了各种便捷的使用功能
恒压/恒流驱动(ALC) 能够施加恒定的电压/电流信号,因此对于特性会随信号电平而变化的被测样品,也能够稳定地进行测量。
DC测量
能够使用DC进行测量,便于测量变压器、线圈等的直流电阻值。
比较
多14种分类(BIN)、筛选零部件,也能够判断上下限。判断结果被输出到处理机接口(ZM2372)。
ZM2371∶多9种,ZM2372∶多14种
偏差测量
通过预置被测零部件的额定值,能够显示与额定值之间的偏差(或者偏差%)
触发同步驱动
通过接触零部件后输出信号,能够减少测量大容量电容器时的接点损耗。
应用软件
遥控与数据收集用的应用软件
配备多种接口
用于自动筛选生产线中零部件的处理机接口*以外,标准配置了GPIB*、RS-232、USB各种接口。能够容易地构建自动测量系统。(* 限于ZM2372型号)

ZM2371高精度LCR测试仪规格:

LCR Meter

LCR测量仪
ZM2371/ZM2372/ZM2376


项目
ZM2371
ZM2372
ZM2376
测量参数  主参数:|Z|、|Y|、 L、 C、 R、 G
  副参数: Q、 D、 θ、 X、 B、 Rs、 Rp、 G、 Lp、 Rdc
测量频率1 mHz~100 kHz1 mHz~5.5 MHz

基本精度

0.08 %

测量信号电平

10mVrms~5Vrms、1μArms~200mArms
内部DC偏置0~+2.5V0~+5V
测量时间1kHz最快2ms
1MHz最快2ms
定电压/
定电流驱动(ALC)
接触检测○(4端子)
低电容检测
比较器○(9分类)○(14分类)○(14分类)
复合测量○(32步骤)
处理器接口







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