日本NF ZM2372高精度LCR测试仪
更新时间:2024-09-13
日本NF ZM2372高精度LCR测试仪1 mHz~100 kHz,高速测量快2ms,基本精度0.08%,分辨率Z高6位数。测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。如果设定为RAP,则能够进行2ms(1kHz)、10ms(120Hz)的高速测量,有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。
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品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
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类型 | 高速LCR测量仪 | 测量范围 | 1 mHz~100 kHz |
测量准确度 | 0.08 %% | 测量频率 | 1 mHz~100 kHzHz |
测量速度 | 2 ms | 电动机功率 | 无kW |
应用领域 | 能源,电气 |
日本NF ZM2372高精度LCR测试仪介绍:
日本NF ZM2372高精度LCR测试仪1 mHz~100 kHz,高速测量快2ms,基本精度0.08%,分辨率Z高6位数。测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。如果设定为RAP,则能够进行2ms(1kHz)、10ms(120Hz)的高速测量,有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。
ZM2372高精度LCR测试仪特点:
高速测量快2ms
测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。
如果设定为RAP,则能够进行2ms(1kHz)、10ms(120Hz)的高速测量,有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。
高精度 基本精度0.08%,分辨率zui高6位数
测量的基本精度为0.08%的高精度,显示分辨率6位数,在主要测量范围内实现5位数高分辨率。能够满足生产线、检查线以及研究开发现场的精度要求。
高分辨率 测量频率 1mHz~100kHz、分辨率5位数
能够在1mHz~100kHz的宽范围内,用5位数的分辨率设定频率。能够测量和评价被测样品详细的频率特性。
宽广的测量信号电平 5Vrms
能够在10mVrms~5Vrms的宽范围内,用3位数的分辨率设定信号电平,便于测量信号电平依存度较强的零部件。
内置DC偏置用电源 2.5V
内置0~+2.5V(分辨率0.01V)DC偏置用电源。能够测量电解电容器之类极性零部件和半导体的接合容量。
丰富多彩的功能 配备了各种便捷的使用功能
恒压/恒流驱动(ALC) 能够施加恒定的电压/电流信号,因此对于特性会随信号电平而变化的被测样品,也能够稳定地进行测量。
DC测量
能够使用DC进行测量,便于测量变压器、线圈等的直流电阻值。
比较
多14种分类(BIN)、筛选零部件,也能够判断上下限。判断结果被输出到处理机接口(ZM2372)。
ZM2371∶多9种,ZM2372∶多14种
偏差测量
通过预置被测零部件的额定值,能够显示与额定值之间的偏差(或者偏差%)
触发同步驱动
通过接触零部件后输出信号,能够减少测量大容量电容器时的接点损耗。
应用软件
遥控与数据收集用的应用软件
配备多种接口
用于自动筛选生产线中零部件的处理机接口*以外,标准配置了GPIB*、RS-232、USB各种接口。能够容易地构建自动测量系统。(* 限于ZM2372型号)
ZM2371高精度LCR测试仪规格:
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