高精度阻抗分析仪介绍： ZA57630可以满足电子元件与材料分析：电池、SMD电感、一体成型电感、电感线圈、继电器、变压器、共模电感、陶瓷电容、变容二极管、压电元件、晶体振荡器、薄膜、电解质、磁导率、介电常数、生物医学技术分析、CV测量：半导体、功率MOSFET、NFC/EMI/无线充电、bead、physics patches等。

日本NF 高精度LCR测试仪介绍： ZM2376高精度LCR测试仪测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域的。实现快速、高精度的稳定测量，而且快速且偏差小的稳定测量，可对应从材料研究到零部 件生产线等的各种用途。

固纬LCR-8220/LCR-8230 LCR测试仪基本准确度 : 0.08%,较快测试速度2.5ms,输出阻抗：25Ω/100Ω,提供DCR量测及内部直流偏压（±12Vdc）,仪表模式、多步列表模式、扫描模式.

LCR-8205/LCR-8210 LCR测试仪基本准确度 : 0.08%,较快测试速度2.5ms,输出阻抗：25Ω/100Ω,提供DCR量测及内部直流偏压（±12Vdc）,仪表模式、多步列表模式、扫描模式.增加了电压，电流监控，直流电阻测试，ALC功能，输入阻抗切换等功能。

日本NF ZM2372高精度LCR测试仪介绍： 日本NF ZM2372高精度LCR测试仪1 mHz～100 kHz，高速测量快2ms，基本精度0.08％，分辨率Z高6位数。测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。如果设定为RAP，则能够进行2ms（1kHz）、10ms（120Hz）的高速测量，有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。

日本NF ZM2371高精度LCR测试仪1 mHz～100 kHz，高速测量快2ms，基本精度0.08％，分辨率Z高6位数。测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。如果设定为RAP，则能够进行2ms（1kHz）、10ms（120Hz）的高速测量，有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。

中国台湾固纬 LCR-6300 高精度LCR表主要特点： LCR-6300 高精度LCR表测试频率：10Hz ~ 300kHz，基本准确度 : 0.05%，Z快测试速度25mS。LCR-6300 高精度LCR表3.5英寸彩色LCD显示屏。体积小，方便携带。LCR-6300可以 10组设定储存的内存，方便用户调用测试条件，内部可存储10笔量测结果，方便实时记录量测结果。还提供了USB接口，方便连接电

LCR-6020 高精度LCR表测试频率：10Hz ~ 2kHz，基本准确度 : 0.05%，Z快测试速度25mS。LCR-6020 高精度LCR表3.5英寸彩色LCD显示屏。体积小，方便携带。LCR-6020可以 10组设定储存的内存，方便用户调用测试条件，内部可存储10笔量测结果，方便实时记录量测结果。还提供了USB接口，方便连接电脑，可以方便提供后期的存储和分析。

LCR-6002高精度LCR表介绍： LCR-6002 高精度LCR表测试频率：10Hz ~ 2kHz，基本准确度 : 0.05%，Z快测试速度25mS。LCR-6002 高精度LCR表3.5英寸彩色LCD显示屏。体积小，方便携带。LCR-6002可以 10组设定储存的内存，方便用户调用测试条件，内部可存储10,000笔量测结果，方便实时记录量测结果。还提供了USB接口，方便连接电脑，可以方便

日本ADEX/LCR测试仪AX-222介绍： 日本ADEX/LCR测试仪AX-222不仅可以方便地测量线圈等电子部分,静电电容器,接触电阻和电阻还像开关,继电器和内部阻力的电池和半导体结电容,和每一个元素。内置的比较器功能。

日本ADEX LCR测试仪AX-221介绍： LCR测试仪AX-221用于测量接触电阻等电气元件的线圈,电容,电阻,开关,继电器等,电池的内部电阻,连接能力的半导体和类型的元素。

阻抗分析仪IM7585介绍： 阻抗分析仪IM7585测试频率可达1MHz~1.3GHz，Z短0.5ms（0.0005秒）的高速测量，能够快速的检查大量电子元件，从而提高电子元件厂商的生产效率。