日本NF 高精度LCR测试仪介绍： ZM2376高精度LCR测试仪测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域的。实现快速、高精度的稳定测量，而且快速且偏差小的稳定测量，可对应从材料研究到零部 件生产线等的各种用途。

日本NF ZM2372高精度LCR测试仪1 mHz～100 kHz，高速测量快2ms，基本精度0.08％，分辨率Z高6位数。测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。如果设定为RAP，则能够进行2ms（1kHz）、10ms（120Hz）的高速测量，有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。

日本NF ZM2371高精度LCR测试仪1 mHz～100 kHz，高速测量快2ms，基本精度0.08％，分辨率Z高6位数。测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。如果设定为RAP，则能够进行2ms（1kHz）、10ms（120Hz）的高速测量，有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。

中国台湾固纬 LCR-6100 高精度LCR表10Hz ~ 100kHz，基本准确度 : 0.05%，Z快测试速度25mS。LCR-6100 高度LCR表3.5英寸彩色LCD显示屏。体积小，方便携带。LCR-6100可以 10组设定储存的内存，方便用户调用测试条件，内部可存储10笔量测结果，方便实时记录量测结果。还提供了USB接口，方便连接电脑，可以方

日本ADEX/LCR测试仪AX-222介绍： 日本ADEX/LCR测试仪AX-222不仅可以方便地测量线圈等电子部分,静电电容器,接触电阻和电阻还像开关,继电器和内部阻力的电池和半导体结电容,和每一个元素。内置的比较器功能。

日本ADEX LCR测试仪AX-221介绍： LCR测试仪AX-221用于测量接触电阻等电气元件的线圈,电容,电阻,开关,继电器等,电池的内部电阻,连接能力的半导体和类型的元素。

日本日置IM7585阻抗分析仪介绍： 阻抗分析仪IM7585测试频率可达1MHz~1.3GHz，Z短0.5ms（0.0005秒）的高速测量，能够快速的检查大量电子元件，从而提高电子元件厂商的生产效率。

MA2115十进制电阻器箱介绍： MA2115和MA2115S十进制电阻器，可用于的懚需要手动选择变化的电阻值的时候。它由金属外壳进行电气封装，每台包括7个十进制的旋转开关，带有从0至9和∝范围计数器。 安全的4mm插座用于连接每个电阻链，可以单独进行插拔。它也可以通过旋转开关∝位置的选择，插入电阻链到两个或多个进行单独绝缘组合。

德国美翠MA2405十进制标准电容箱介绍： MA2405十进制标准电容器，可用于所有应用场合中需要手动选择可变电容器的情况。它全部被电气封装，具有金属外壳和内部保护。本设备包括三个十进制的旋转开关，用于选择电容值，范围从100pF至100nF。

德国美翠MA2705十进制标准电感箱介绍： MA2705十进制电感可用于在需要进行手动选择变化的电感值时的所有应用领域。设备由金属外壳进行电气封装，包括三个十进制电感选择，范围从0mH，Z大至999mH。

AT770电感测试仪介绍： AT770电感测试仪内建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz测试频率，并且提供0.1V、0.3V和1V测试电平，使其能满足一般生产现场的使用。 内置RS232C接口，兼容SCPI编程语言，很容易与计算机通讯，完成所有仪器功能。

AT776电感测试仪介绍： AT776电感测试仪测试频率，50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz。测量精度：0.05%。高亮度，超清晰四色VFD显示。