日本NF ZM2371高精度LCR测试仪介绍：

日本NF ZM2371高精度LCR测试仪1 mHz～100 kHz，高速测量快2ms，基本精度0.08％，分辨率Z高6位数。测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。如果设定为RAP，则能够进行2ms（1kHz）、10ms（120Hz）的高速测量，有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。

ZM2371高精度LCR测试仪特点：
高速测量快2ms
测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。
如果设定为RAP，则能够进行2ms（1kHz）、10ms（120Hz）的高速测量，有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。
高精度 基本精度0.08％，分辨率zui高6位数
测量的基本精度为0.08％的高精度，显示分辨率6位数，在主要测量范围内实现5位数高分辨率。能够满足生产线、检查线以及研究开发现场的精度要求。
高分辨率 测量频率 1mHz～100kHz、分辨率5位数
能够在1mHz～100kHz的宽范围内，用5位数的分辨率设定频率。能够测量和评价被测样品详细的频率特性。
宽广的测量信号电平 5Vrms
能够在10mVrms～5Vrms的宽范围内，用3位数的分辨率设定信号电平，便于测量信号电平依存度较强的零部件。
内置DC偏置用电源 2.5V
内置0～＋2.5V（分辨率0.01V）DC偏置用电源。能够测量电解电容器之类极性零部件和半导体的接合容量。
丰富多彩的功能 配备了各种便捷的使用功能
恒压/恒流驱动（ALC） 能够施加恒定的电压/电流信号，因此对于特性会随信号电平而变化的被测样品，也能够稳定地进行测量。
DC测量
能够使用DC进行测量，便于测量变压器、线圈等的直流电阻值。
比较
多14种分类（BIN）、筛选零部件，也能够判断上下限。判断结果被输出到处理机接口（ZM2372）。
ZM2371∶多9种，ZM2372∶多14种
偏差测量
通过预置被测零部件的额定值，能够显示与额定值之间的偏差（或者偏差％）
触发同步驱动
通过接触零部件后输出信号，能够减少测量大容量电容器时的接点损耗。
应用软件
遥控与数据收集用的应用软件
配备多种接口
用于自动筛选生产线中零部件的处理机接口*以外，标准配置了GPIB*、RS-232、USB各种接口。能够容易地构建自动测量系统。（* 限于ZM2372型号）

ZM2371高精度LCR测试仪规格：