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日本日置3504-60/ 3504-50/ 3504-40电容测试仪

发布日期:2012-06-19      点击:1894

日本日置3504-60/ 3504-50/ 3504-40电容测试仪区别:


3504-60电容测试仪/C测试仪 3504-60

C、D 2项目测试
能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
静电容量:zui多可分成14类,能简单地根据测量值进行分类
控制检测功能
测试源频率: 120Hz, 1kHz
高速测量: 2ms
RS-232C, GP-IB

3504-50电容测试仪/C测试仪 3504-50

C、D 2项目测试
能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
静电容量:zui多可分成14类,能简单地根据测量值进行分类
测试源频率: 120Hz, 1kHz
高速测量: 2ms
RS-232C, GP-IB

3504-40电容测试仪/C测试仪 3504-40

C、D 2项目测试
能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
测试源频率: 120Hz, 1kHz
高速测量: 2ms
RS-232C 
 日本日置3504-60/ 3504-50/ 3504-40电容测试仪技术参数:

测量参数 Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围 C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本确度 <> (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒定电压模式: 100mV (3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻 5Ω<>(开路端子电压模式,上述测量范围以外)
显示 发光二级管 (6行表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能 4端子控制检测功能(3504-60),BIN测量(除去3504-40),触发同时输出,储存测量条件,比较测量值的场强,平均值功能,Low-C抑制功能,鸣叫功能,控制用输出入(EXT.I/O),RS-232C界面(标准装备),GP-IB接口(3504-40除外)
电源 AC 100/120/220/240V ±10%<>(可选择), 50/60Hz, zui大110VA
体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 电源线×1,预备电源保险丝×1

 日本日置3504-60/ 3504-50/ 3504-40电容测试仪的选件:

测试冶具或电缆
SMD测试冶具 9699:底部 SMD电极,操作频率:DC~120MHz,测量对象尺寸:W:1.0~4.0mm H:1.5mm
SMD测试冶具 9677:侧面 SMD 电极,操作频率:DC~120MHz,测量对象尺寸:3.5±0.5mm
SMD测试冶具 9263:DC~5 MHz, 直结型
测试冶具 9262:DC~5 MHz, 直结型
测试冶具 9261:DC~5 MHz, 1 m
针型测试探头 9143:DC~5 MHz, 1 m
4端子测试探头 9140:DC~100 kHz, 1 m

打印机
打印机 9442:数值印字
交流电源转换器 9443-02:适用于 打印机 9442(欧州)
交流电源转换器 9443-03:适用于 打印机 9442(美国)
连接电缆 9444:适用于9442, 线长:1.5 m
记录纸 1196:112mm x 25m, 10 卷/盒

PC 通讯器:GP-IB连接电缆 9151-02,2m 长


GP-IB连接电缆 9151-04,4 m长

 测试方法:

采用桥式电路结构,标准电容器和被试电容器作为桥式电路的两臂。当进行电容器电容值测量时,测试电压同时施加在标准电容器和被试电容器上,处理器通过传感器同采集流过两者的电流信号并进行处理后得也被试电容器的电容值。由于采用标准电容器、被试电容器同步采样技术,可不受电源电压波动的影响;加之测量过程是全自动进行的,避免了手动操作引起的误差。