日本岩崎 SY-8264 B-H 测试仪介绍：

日本岩崎 SY-8264 B-H 测试仪该设备可在30MHz频率范围内精确测量软磁性材料及部件的磁特性，10MHz时相位测量精度为±0.15°，30MHz时精度为±0.30°（单绕线法，代表值）。双绕线法支持高达30MHz测量（精度保证至10MHz）。支持通过选件扩展测试频率，单次测量可获取26项参数，操作方式包括正面面板及外接鼠标/键盘。

产品应用：

‌核心功能‌：主要用于测量软磁材料（如铁氧体、非晶、纳米晶等）的‌磁滞回线‌和‌磁芯损耗‌，能自动画出 B-H 曲线 。

‌频率范围‌：标配频段为 10Hz 到 1MHz，通过加装选件最高可扩展到‌30MHz‌，覆盖高频功率电感和新材料的测试需求 。

‌测量精度‌：在 10MHz 频率下相位测量精度为±0.15°，30MHz 时为±0.30°，解决了高频下磁损测试误差大的问题 。

‌输出参数‌：单次测量可一次性输出‌26 项磁参数‌，包括磁感应强度 Bm、剩磁 Br、矫顽力 Hc、电感 L、Q 值等关键指标 。‌‌‌

特点

● 从低频到高频30MHz，准确测量软磁性材料及软磁性部件的磁特性

● 10MHz测量，相位测量精度为±0.15°（代表值）

● 30MHz测量，相位测量精度为±0.30°（单绕线法^※1、代表値）

● 双绕线法也可实现高达30MHz的测量（精度保证仅到10MHz^※3）

● 无论是购买时，还是购买后，均可通过追加频率选件扩展测试频率

● 单次测量可获取26项测量参数

● 不仅可通过正面操作面板操作，也可通过外接鼠标/键盘操作。

● “解析功能"可设置单次测量的测量次数和间隔（可选择显示：最大值/最小值/平均值）

无论是购买时，还是购买后均可通过追加频率选件扩展测试频率.

SY-8264 10Hz～1MHz

○测试频率选件 SY-600  1MHz～10MHz

○测试频率选件 SY-601 1MHz～20MHz

○测试频率选件 SY-602 1MHz～30MHz