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IM7580 LCR测试仪/阻抗分析仪报价

IM7580 LCR测试仪/阻抗分析仪报价

更新时间:2017-10-18

产品特点:
IM7580 阻抗分析仪介绍:
IM7580Z高可测300MHz的高频,是能应对高频化发展的电子元器件的产品。通过IM7580Z快0.5ms(0.0005秒)的高速测量速度,可以快速的检查大批量的电子元器件,从而大幅提高电子元器件厂家的生产效率。
产品介绍

IM7580 阻抗分析仪介绍:

HIOKI推出阻抗分析仪IM7580。IM7580zui高可测300MHz的高频,是能应对高频化发展的电子元器件的产品。通过IM7580zui快0.5ms(0.0005秒)的高速测量速度,可以快速的检查大批量的电子元器件,从而大幅提高电子元器件厂家的生产效率。

IM7580 阻抗分析仪主要特点:

300MHz世界zui快、通过高速测量和高反复精度缩短工时、加速生产

测量频率1MHz~300MHz
测量时间:zui快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

IM7580 阻抗分析仪技术参数:  

测量模式LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量
测量参数Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围100 mΩ~5 kΩ
显示范围Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
测量频率1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进)
测量信号电平功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms
电流 ( I )模式: 0.09 mA~200.2 mArms
输出阻抗50 Ω (10 MHz时)
显示彩色TFT8.4英寸、触屏
测量时间zui快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值
功能接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件)
电源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
体积和重量主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg
测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
附件电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1


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